MIA_Toolbox 更新 TrendTool：支持多变量图像的光谱域层探索与标记分析

MIA_Toolbox 以及 Solo+MIA 平台中的 TrendTool 现已适配图像数据，用户可借助光谱域对多变量图像的各个层进行探索。通过设置标记并拖拽，即可在趋势图中实时观察对应变化。

标记测量模式

TrendTool 提供四种标记测量方式：

• 位置高度：默认模式，绘制单个标记处的数值，相当于提取特定变量下的图像“层”。

• 积分面积：对两个标记之间的全部数值进行求和。

• 峰位置：定位两个标记之间的蕞大数值所在位置。

• 峰宽度：计算两个标记之间蕞大峰的半高宽。

除“位置高度”模式外，启用其他模式时标记会分裂为两个同色标记，由这两者界定待分析区域的边界。趋势光谱图可通过绘图控件或显示工具栏调整。

标记工具栏与趋势显示选项

标记工具栏包含自动标记峰、翻转 x 轴方向及刷新趋势显示窗口等功能。

图像工具栏则提供多种显示编辑：

• 保存趋势结果：将包含计算结果、标签和坐标刻度的 DataSet 对象保存。

• 生成结果图：在独立窗口中生成结果曲线图，可选择查看单一结果。标记变动后需重新再次生成。

• 选择像素区域：在图像上框选区域，将对应底层数据回传到 TrendTool 数据视图中，便于分析特定区域。

• 自动对比度：裁切异常高/低值（超出 3 倍标准差），使色彩刻度更有效呈现图像差异。

• 表面图显示：将图像切换为三维表面图（高度代表测量参数），支持旋转编辑。

• 插值调节：增加或减少像素间插值，可改善低分辨率图像的二维或三维特征可辨识度。

该功能强化了化学计量学分析中对图像数据局部分布与光谱变化的交互式探索能力。